Polarization analysis, measurement, and remote sensing III : 2-4 August 2000, San Diego, USA

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書誌事項

タイトル
"Polarization analysis, measurement, and remote sensing III : 2-4 August 2000, San Diego, USA"
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David B. Chenault, Michaek J. Duggin, Walter G. Egan, Dennis H. Goldstein, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--The International Society for Optical Engineering
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c2000
書籍サイズ
28 cm

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000794831654272
  • NII書誌ID
    BA49669057
  • ISBN
    0819437786
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Bellingham, Wash.
  • 分類
  • 件名
  • データソース種別
    • CiNii Books
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