陽電子消滅によるGaN系半導体の点欠陥の研究

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Bibliographic Information

Title
"陽電子消滅によるGaN系半導体の点欠陥の研究"
Statement of Responsibility
上殿明良研究代表者
Publisher
  • [上殿明良]
Publication Year
  • 2003.5
Book size
30cm
Other Title
  • ヨウデンシ ショウメツ ニヨル GaNケイ ハンドウタイ ノ テン ケッカン ノ ケンキュウ

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Notes

研究課題番号: 13650332

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1130000794917251840
  • NII Book ID
    BA66772336
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    ja
  • Place of Publication
    • [つくば]
  • Data Source
    • CiNii Books
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