ARPA/NBS workshop III. test patterns for integrated circuits

HathiTrust 1976 Web Site CiNii 所蔵館 2館

書誌事項

タイトル
"ARPA/NBS workshop III. test patterns for integrated circuits"
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Harry A. Schafft, editor
出版者
  • U.S. G.P.O.
出版年月
  • 1976
書籍サイズ
26 cm
巻次・年月次
  • 400-15

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注記

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