Automated optical inspection for industry: theory, technology, and applications II : 16-19 September, 1998, Beijing, China
書誌事項
- タイトル
- "Automated optical inspection for industry: theory, technology, and applications II : 16-19 September, 1998, Beijing, China"
- 責任表示
- Shenghua Ye, chair/editor ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering, COEMA--China Optics & Optoelectronic Manufacturers Association, COS--Chinese Optical Society ; cooperating organizations, National Natural Science Foundation of China ... [et al.]
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c1998
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographical references and author index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000795122338816
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- NII書誌ID
- BA45606215
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- ISBN
- 0819430196
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- LCCN
- 99159856
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/99159856
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Washington
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- データソース種別
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- CiNii Books