低波数域ラマン散乱による半導体の結晶欠陥の評価解析
CiNii
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Bibliographic Information
- Title
- "低波数域ラマン散乱による半導体の結晶欠陥の評価解析"
- Statement of Responsibility
- 研究代表者 中島信一
- Publisher
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- 大阪大学工学部
- Publication Year
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- 1993.3
- Book size
- 31 cm
- Other Title
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- テイハスウイキ ラマン サンラン ニ ヨル ハンドウタイ ノ ケッショウ ケッカン ノ ヒョウカ カイセキ
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Notes
[課題番号]: 03650015
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1130000795138569216
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- NII Book ID
- BB23458814
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- Text Lang
- en
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- Country Code
- ja
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- Title Language Code
- ja
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- Place of Publication
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- [吹田]
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- Data Source
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- CiNii Books
