Board and system test track

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書誌事項

タイトル
"Board and system test track"
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[sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section]
出版者
  • International Test Conference
出版年月
  • c2003
書籍サイズ
28 cm
タイトル別名
  • Proceedings : Board and system test track : International Test Conference 2003
  • International Test Conference 2003 : Proceedings : Board and system test track : September 30-October 2, 2003, Charlotte Convention Center, Charlotte, NC, USA

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注記

IEEE Catalog Number: 03CH37494

Includes bibliographical references and index

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000795434131456
  • NII書誌ID
    BA65459044
  • ISBN
    0780381068
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Washington, D.C.
  • データソース種別
    • CiNii Books
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