Testing of communicating systems : 18th IFIP TC6/WG6.1 International Conference, TestCom 2006, New York, NY. USA, May 16-18, 2006 : proceedings

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書誌事項

タイトル
"Testing of communicating systems : 18th IFIP TC6/WG6.1 International Conference, TestCom 2006, New York, NY. USA, May 16-18, 2006 : proceedings"
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M. Ümit Uyar, Ali Y. Duale, Mariusz A. Fecko (eds.)
出版者
  • Springer
出版年月
  • c2006
書籍サイズ
24 cm

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注記

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