Nonintrusive inspection, structures monitoring, and smart systems for homeland security : 27-28 February 2006, San Diego, California, USA
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書誌事項
- タイトル
- "Nonintrusive inspection, structures monitoring, and smart systems for homeland security : 27-28 February 2006, San Diego, California, USA"
- 責任表示
- Aaron A. Diaz ... [et al.] , chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cosponsored by ASME--American Society of Mechanical Engineers (USA) ; cooperating organizations, Intelligent Materials Forum (Japan), Jet Propulsion Laboratory (USA), National Science Foundation (USA)
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c2006
- 書籍サイズ
- 28 cm
- シリーズ名/番号
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- pbk.
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注記
Includes bibliographical references and author index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000795643088384
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- NII書誌ID
- BA79770118
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- ISBN
- 0819462314
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash.
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- データソース種別
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- CiNii Books