Nonintrusive inspection, structures monitoring, and smart systems for homeland security : 27-28 February 2006, San Diego, California, USA

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書誌事項

タイトル
"Nonintrusive inspection, structures monitoring, and smart systems for homeland security : 27-28 February 2006, San Diego, California, USA"
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Aaron A. Diaz ... [et al.] , chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cosponsored by ASME--American Society of Mechanical Engineers (USA) ; cooperating organizations, Intelligent Materials Forum (Japan), Jet Propulsion Laboratory (USA), National Science Foundation (USA)
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c2006
書籍サイズ
28 cm
シリーズ名/番号
  • pbk.

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000795643088384
  • NII書誌ID
    BA79770118
  • ISBN
    0819462314
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Bellingham, Wash.
  • データソース種別
    • CiNii Books
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