Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991

CiNii 所蔵館 13館

書誌事項

タイトル
"Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991"
責任表示
edited by Gordon Davies, Gary G. DeLeo and Michael Stavola
出版者
  • Trans Tech Publications
出版年月
  • c1992
書籍サイズ
25 cm
シリーズ名/番号
  • : set
タイトル別名
  • Defects in semiconductors 16

この図書・雑誌をさがす

関連図書・雑誌

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000795681827712
  • NII書誌ID
    BA13702321
  • ISBN
    0878496289
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    sz
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Zürich, Switzerland
  • 分類
  • データソース種別
    • CiNii Books
ページトップへ