パワーMOSFETの耐放射線性評価試験
CiNii
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Bibliographic Information
- Title
- "パワーMOSFETの耐放射線性評価試験"
- Statement of Responsibility
- 宇宙開発事業団編
- Publisher
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- 宇宙開発事業団
- Publication Year
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- 1999.6
- Book size
- 30cm
- Other Title
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- パワー MOSFET ノ タイホウシャセンセイ ヒョウカ シケン
- The evaluation test for single event phenomina of power MOSFETs caused by nuclear reactions with incident heavy ions
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Notes
作成元: 高信頼性部品
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1130000795722644480
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- NII Book ID
- BA68687657
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- Text Lang
- ja
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- Country Code
- ja
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- Title Language Code
- ja
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- Place of Publication
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- 東京
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- Data Source
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- CiNii Books