Regret region hypothesis testing using unbiased statistics : application to the left-retracted exponential distribution

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書誌事項

タイトル
"Regret region hypothesis testing using unbiased statistics : application to the left-retracted exponential distribution"
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by Yoshiko Nogami
出版者
  • University of Tsukuba
出版年月
  • 2003
書籍サイズ
30 cm

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000795926600064
  • NII書誌ID
    BA66216740
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Tsukuba
  • データソース種別
    • CiNii Books
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