Machine vision applications in industrial inspection III : 8-9 February 1995, San Jose, California
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書誌事項
- タイトル
- "Machine vision applications in industrial inspection III : 8-9 February 1995, San Jose, California"
- 責任表示
- Frederick Y. Wu, Stephen S. Wilson, chairs/editors ; sponsored by IS&T--the Society for Imaging Science and Technology, SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c1995
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796112550400
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- NII書誌ID
- BA26705854
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- ISBN
- 081941770X
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash., USA
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- データソース種別
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- CiNii Books