Optical characterization techniques for semiconductor technology : April 1-2, 1981, San Jose, California

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書誌事項

タイトル
"Optical characterization techniques for semiconductor technology : April 1-2, 1981, San Jose, California"
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D.E. Aspnes, S. So, R.F. Potter, editors
出版者
  • S.P.I.E.-- Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
出版年月
  • 1981
書籍サイズ
28 cm
シリーズ名/番号
  • pbk.

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Includes bibliographical references and indexes

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1970023484909967000
  • NII書誌ID
    BA23923983
  • ISBN
    0892523093
  • LCCN
    81051404
  • Web Site
    https://lccn.loc.gov/81051404
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Bellingham, Wash.
  • 分類
  • データソース種別
    • NACSIS-CAT/ILL
    • CiNii Books
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