Degradation processes in reliability
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "Degradation processes in reliability"
- 責任表示
- Waltraud Kahle, Sophie Mercier, Christian Paroissin
- 出版者
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- ISTE
- Wiley
- 出版年月
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- c2016
- 書籍サイズ
- 25 cm
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注記
Includes bibliographical references (p. [199]-207) and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796218255360
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- NII書誌ID
- BB21761414
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- ISBN
- 9781848218888
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- uk
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- London
- Hoboken, N.J.
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- データソース種別
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- CiNii Books