Risk methodologies for technological legacies

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書誌事項

タイトル
"Risk methodologies for technological legacies"
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edited by Dennis C. Bley ... [et al.]
出版者
  • Kluwer Academic Publishers
出版年月
  • c2003
書籍サイズ
25 cm
シリーズ名/番号
  • : pbk

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注記

"Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Risk Assessment Activities for the Cold War Facilities and Environmental Legacies, Bourgas, Bulgaria, 2-11 May 2000"--T.p. verso

Includes bibliographical references and index

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