書誌事項
- タイトル
- "Intelligent testing with the WISC-R"
- 責任表示
- Alan S. Kaufman
- 出版者
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- Wiley
- 出版年月
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- c1979
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
Bibliography: p. 227-250
Includes indexes
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796450327168
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- NII書誌ID
- BA10490646
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- ISBN
- 0471049719
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- LCCN
- 78031174
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/78031174
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- New York
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- 分類
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- LCC: BF432.5.W42
- DC: 153.9/32
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- データソース種別
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- CiNii Books
