Interferometry : surface characterization and testing : 24 July 1992, San Diego, California
書誌事項
- タイトル
- "Interferometry : surface characterization and testing : 24 July 1992, San Diego, California"
- 責任表示
- Katherine Creath, John E. Greivenkamp, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
-
- SPIE
- 出版年月
-
- c1992
- 書籍サイズ
- 28 cm
この図書・雑誌をさがす
注記
Includes bibliographical references and index
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130000796593997312
-
- NII書誌ID
- BA26570074
-
- ISBN
- 0819409499
-
- LCCN
- 92085390
-
- Web Site
- https://lccn.loc.gov/92085390
-
- 本文言語コード
- en
-
- 出版国コード
- us
-
- タイトル言語コード
- en
-
- 出版地
-
- Bellingham, Wash.
-
- データソース種別
-
- CiNii Books