書誌事項
- タイトル
- "Characterization methods for submicron MOSFETs"
- 責任表示
- edited by Hisham Haddara
- 出版者
-
- Kluwer Academic Publishers
- 出版年月
-
- c1995
- 書籍サイズ
- 24 cm
この図書・雑誌をさがす
注記
Includes bibliographical references and index
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130000796846886016
-
- NII書誌ID
- BA27762649
-
- ISBN
- 0792396952
-
- LCCN
- 95050306
-
- Web Site
- https://lccn.loc.gov/95050306
-
- 本文言語コード
- en
-
- 出版国コード
- us
-
- タイトル言語コード
- en
-
- 出版地
-
- Boston
-
- 分類
-
- LCC: TK7871.95
- DC20: 621.3815/284
-
- データソース種別
-
- CiNii Books