書誌事項
- タイトル
- "Logic testing and design for testability"
- 責任表示
- Hideo Fujiwara
- 出版者
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- MIT Press
- 出版年月
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- c1985
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
Bibliography: p. [272]-278
Includes index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796964744704
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- NII書誌ID
- BA0446462X
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- ISBN
- 9780262561990
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- LCCN
- 85000084
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/85000084
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Cambridge, Mass.
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- 分類
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- LCC: TK7868.L6
- DC19: 621.3815/37
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- 件名
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- データソース種別
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- CiNii Books