偏光フォトレフレクタンス法によるアモルファス半導体の構造乱れの研究
CiNii
Available at 1 libraries
Bibliographic Information
- Title
- "偏光フォトレフレクタンス法によるアモルファス半導体の構造乱れの研究"
- Statement of Responsibility
- 研究代表者 岡本博明
- Publisher
-
- 大阪大学基礎工学部
- Publication Year
-
- 1995.3
- Book size
- 30 cm
- Other Title
-
- ヘンコウ フォトレフレクタンスホウ ニ ヨル アモルファス ハンドウタイ ノ コウゾウ ミダレ ノ ケンキュウ
Search this Book/Journal
Notes
課題番号: 05650305
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1130000797177774976
-
- NII Book ID
- BB2484453X
-
- Text Lang
- en
-
- Country Code
- ja
-
- Title Language Code
- ja
-
- Place of Publication
-
- [豊中]
-
- Data Source
-
- CiNii Books
