エネルギー分散型X線分析 : 半導体検出器の使い方

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1130000797184747776

• NII書誌ID

  BN03633392

• ISBN

  4762225843

• 本文言語コード

  ja

• 出版国コード

  ja

• タイトル言語コード

  ja

• 出版地

  • 東京

• 分類

  • NDC8: 433.5
  • NDC8: 425.508
  • NDC7: 433.58
  • NDLC: PA128

• 件名

  • NDLSH: エックス線分光分析
  • BSH: エックス線分光分析

• データソース種別

  • CiNii Books