書誌事項
- タイトル
- "Integrity assessment and assurance"
- 責任表示
- [edited by] Emiliano Pollino
- 出版者
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- Artech House
- 出版年月
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- c1989
- 書籍サイズ
- 24 cm
- タイトル別名
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- L'affidabilità dei componenti elettronoci a semiconduttore
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注記
Includes bibliographies and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000797274798208
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- NII書誌ID
- BA07843850
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- ISBN
- 0890063508
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- LCCN
- 88007814
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/88007814
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Norwood, MA
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- 分類
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- LCC: TK7871.85
- DC19: 621.3815/2
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- 件名
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- データソース種別
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- CiNii Books
