書誌事項
- タイトル
- "Statistical methods for the reliability of repairable systems"
- 責任表示
- Steven E. Rigdon, Asit P. Basu
- 出版者
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- Wiley
- 出版年月
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- c2000
- 書籍サイズ
- 25 cm
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注記
"Wiley-Interscience publication"
Includes bibliographical references (p. 267-275) and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000797278791168
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- NII書誌ID
- BA4687324X
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- ISBN
- 0471349410
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- LCCN
- 99057532
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/99057532
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- New York
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- 分類
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- NDC9: 509.6
- LCC: TA169.B38
- DC21: 620/.00452
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- データソース種別
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- CiNii Books