超高性能VLSIの論理設計とテスト方式に関する研究
CiNii
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Bibliographic Information
- Title
- "超高性能VLSIの論理設計とテスト方式に関する研究"
- Statement of Responsibility
- 研究代表者 笹尾勤
- Publisher
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- [九州工業大学]
- Publication Year
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- 2001.3
- Book size
- 30cm
- Other Title
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- チョウコウセイノウ VLSI ノ ロンリ セッケイ ト テスト ホウシキ ニカンスル ケンキュウ
- 平成11年度〜平成13年度科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書
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Notes
課題番号: 11694168
研究分担者: 梶原誠司
参考文献
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1130000798008363904
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- NII Book ID
- BA77954073
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- Country Code
- ja
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- Title Language Code
- ja
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- Place of Publication
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- [北九州]
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- Data Source
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- CiNii Books