An introduction to time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and its application to materials science

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書誌事項

タイトル
"An introduction to time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and its application to materials science"
責任表示
Sarah Fearn
出版者
  • Morgan & Claypool
出版年月
  • c2015
書籍サイズ
26 cm
シリーズ名/番号
  • : print

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注記

"A Morgan & Claypool publication as part of IOP Concise Physics"--T.p. verso

"IOP ebooks"--Cover

Includes bibliographical references

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000798045000704
  • NII書誌ID
    BB22394374
  • ISBN
    9781681740249
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • San Rafael, Calif.
  • データソース種別
    • CiNii Books
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