Proceedings of the Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices
書誌事項
- タイトル
- "Proceedings of the Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices"
- 責任表示
- editors, D.K. Schroder, J.L. Benton, P. Rai-Choudhury
- 出版者
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- Electrochemical Society
- 出版年月
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- c1994
- 書籍サイズ
- 23 cm
- タイトル別名
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- Diagnostic techniques for semiconductor materials and devices 1994
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注記
Includes bibliographical references and indexes
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000798060315520
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- NII書誌ID
- BA25636359
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- ISBN
- 1566770920
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- LCCN
- 94061185
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/94061185
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Pennington, NJ
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- 分類
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- LCC: TK7874.85
- DC20: 621.3815/2/0287
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- データソース種別
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- CiNii Books
