Scientific detection of fakery in art : 29-30 January 1998, San Jose, California
書誌事項
- タイトル
- "Scientific detection of fakery in art : 29-30 January 1998, San Jose, California"
- 責任表示
- Walter McCrone, Duane R. Chartier, Richard J Weiss, chairs/editors ; sponsored by IS&T--the Society for Imaging Science and Technology [and] SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
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- The Society
- 出版年月
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- c1998
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130006573458560419
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- NII書誌ID
- BC07201428
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- ISBN
- 0819427551
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- LCCN
- 98227309
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/98227309
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash., USA
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- 件名
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- データソース種別
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- CiNii Books