Scientific detection of fakery in art : 29-30 January 1998, San Jose, California

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タイトル
"Scientific detection of fakery in art : 29-30 January 1998, San Jose, California"
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Walter McCrone, Duane R. Chartier, Richard J Weiss, chairs/editors ; sponsored by IS&T--the Society for Imaging Science and Technology [and] SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版者
  • The Society
出版年月
  • c1998
書籍サイズ
28 cm

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注記

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