Optical fabrication, testing, and metrology III : 2-4 September 2008, Glasgow, United Kingdom
書誌事項
- タイトル
- "Optical fabrication, testing, and metrology III : 2-4 September 2008, Glasgow, United Kingdom"
- 責任表示
- Angela Duparré, Roland Geyl, editors ; sponsored by SPIE Europe ; cosponsored by Scottish Optoelectronic Association (United Kingdom) ; cooperating organisations, EFDS--Europäische Forschungsgesellschaft Dünne Schichten e.V. (Germany) ... [et al.]
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- [2008]
- 書籍サイズ
- 28 cm
- タイトル別名
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- Optical fabrication, testing, and metrology 3
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注記
Includes bibliographical references and author index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130007115567856649
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- NII書誌ID
- BC08180210
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- ISBN
- 9780819473325
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- LCCN
- 2010287148
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/2010287148
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- uk
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Washington
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- 分類
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- LCC: TS510
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- データソース種別
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- CiNii Books
