X rays in materials analysis : novel applications and recent developments : 21-22 August 1986, San Diego, California
書誌事項
- タイトル
- "X rays in materials analysis : novel applications and recent developments : 21-22 August 1986, San Diego, California"
- 責任表示
- Thomas W. Rusch, chairman/editor ; cooperating organizations, Institute of Optics/University of Rochester ... [et al.]
- 出版者
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- SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版年月
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- c1986
- 書籍サイズ
- 28 cm
- シリーズ名/番号
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- pbk.
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注記
Includes bibliographies and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282268781755520
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- NII書誌ID
- BA24030633
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- ISBN
- 0892527250
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- LCCN
- 86061937
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/86061937
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash., USA
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- データソース種別
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- CiNii Books