Machine vision applications in industrial inspection : 3-4 February 1993, San Jose, California

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書誌事項

タイトル
"Machine vision applications in industrial inspection : 3-4 February 1993, San Jose, California"
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Frederick Y. Wu, Benjamin M. Dawson, chairs/editors ; sponsored by IS&T--the Society for Imaging Science and Technology, SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c1993
書籍サイズ
28 cm

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注記

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