Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, proceedings
書誌事項
- タイトル
- "Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, proceedings"
- 責任表示
- ed. Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred ...[et al.]
- 出版者
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- Springer
- 出版年月
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- 2006
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
"S+SSPR 2006, IAPR"
Includes bibliographical reference and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282268883855360
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- NII書誌ID
- BA7820491X
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- ISBN
- 3540372369
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- LCCN
- 2006930416
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/2006930416
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- gw
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Berlin
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- データソース種別
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- CiNii Books