書誌事項
- タイトル
- "Laser metrology and inspection : 14-15 June 1999, Munich, Germany"
- 責任表示
- Hans J. Tiziani, Pramod K. Rastogi, chairs/editors ; sponsored by EOS, SPIE, WLT
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c1999
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282268947480192
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- NII書誌ID
- BA8605365X
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- ISBN
- 0819433098
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- LCCN
- 00501368
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/00501368
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash.
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- データソース種別
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- CiNii Books