半導体部品の信頼性に関する調査・検討
CiNii
所蔵館 1館
書誌事項
- タイトル
- "半導体部品の信頼性に関する調査・検討"
- 責任表示
- 宇宙開発事業団編
- 出版者
-
- 宇宙開発事業団
- 出版年月
-
- 1998.3-2001.1
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
-
- ハンドウタイ ブヒン ノ シンライセイ ニ カンスル チョウサ ケントウ
- Study on the reliabilities of the semiconductor device
この図書・雑誌をさがす
注記
作成元: 沖エンジニアリング
[その1]: 1998年3月
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130282269058781824
-
- NII書誌ID
- BA68550018
-
- 本文言語コード
- ja
-
- 出版国コード
- ja
-
- タイトル言語コード
- ja
-
- 出版地
-
- 東京
-
- データソース種別
-
- CiNii Books
