Oxide reliability : a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "Oxide reliability : a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability"
- 責任表示
- editor, D. J. Dumin
- 出版者
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- World Scientific
- 出版年月
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- c2002
- 書籍サイズ
- 26 cm
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282269262076800
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- NII書誌ID
- BA56959953
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- ISBN
- 9810248423
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- si
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Singapore ; New Jersey ; London ; Hong Kong
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- データソース種別
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- CiNii Books
