書誌事項
- タイトル
- "Polarimetry and ellipsometry : 20-23 May, 1996, Kazimierz Dolny, Poland"
- 責任表示
- Maksymilian Pluta, Tomasz R. Woliński, chairs/editors ; Mariusz Szyjer, co-editor ; organized by, SPIE Poland Chapter, Institute of Applied Optics, Warsaw (Poland) ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering, State Committee for Scientific Research (Poland)
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c1997
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282269300337024
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- NII書誌ID
- BA41023758
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- ISBN
- 0819425095
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- LCCN
- 97200960
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/97200960
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash., USA
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- 件名
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- データソース種別
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- CiNii Books