Optical testing and metrology II : 27-30 June 1988, Dearborn, Michigan

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タイトル
"Optical testing and metrology II : 27-30 June 1988, Dearborn, Michigan"
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C.P. Grover, chair/editor ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering and ESD--the Engineering Society
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c1989
書籍サイズ
28 cm

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注記

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