Hardware and software verification and testing : First International Haifa Verification Conference, Haifa, Israel, November 13-16, 2005. revised selected papers

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書誌事項

タイトル
"Hardware and software verification and testing : First International Haifa Verification Conference, Haifa, Israel, November 13-16, 2005. revised selected papers"
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Shmuel Ur, Eyal Bin, Yaron Wolfsthal (eds.)
出版者
  • Springer Berlin
出版年月
  • c2006
書籍サイズ
24 cm

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130282269394179712
  • NII書誌ID
    BA7674428X
  • ISBN
    3540326049
  • LCCN
    2006921186
  • Web Site
    https://lccn.loc.gov/2006921186
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    gw
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Berlin
  • 分類
  • データソース種別
    • CiNii Books
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