LSI歩留り向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究
CiNii
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Bibliographic Information
- Title
- "LSI歩留り向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究"
- Statement of Responsibility
- 温暁青研究代表
- Publisher
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- [九州工業大学]
- Publication Year
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- 2007.5
- Book size
- 30cm
- Other Title
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- LSI ブドマリ コウジョウ ノ タメ ノ ゴテスト カイヒガタ テスト ホウシキ ニカンスル ケンキュウ
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Notes
課題番号: 17500039
平成17年度～平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(C))研究成果報告書
研究分担者: 梶原誠司
参考文献: 各論末
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1130282269520828800
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- NII Book ID
- BB06083271
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- Country Code
- ja
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- Title Language Code
- ja
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- Place of Publication
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- [北九州]
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- Data Source
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- CiNii Books
