Optical and infrared interferometry and imaging V : 27 June - 1 July 2016 Edinburgh, United Kingdom

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タイトル
"Optical and infrared interferometry and imaging V : 27 June - 1 July 2016 Edinburgh, United Kingdom"
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Fabien Malbet, Michelle J. Creech-Eakman, Peter G. Tuthill, editors ; sponsored by SPIE ; cooperating organizations ; American Astronomical Society (United States) ... [et al.]
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c2016
書籍サイズ
28 cm
シリーズ名/番号
  • : [set]

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注記

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