JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例
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Bibliographic Information
- Title
- "JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例"
- Statement of Responsibility
- 坂巻佳壽美著
- Publisher
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- CQ出版
- Publication Year
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- 1998.12
- Book size
- 21cm
- Other Title
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- JTAG テスト ノ キソ ト オウヨウ : シンジダイ ノ デンシ カイロ キバン ノ テスト シュホウ ト サマザマナ オウヨウ ジレイ
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Notes
参考文献: p180
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1130282269770981632
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- NII Book ID
- BA39259718
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- ISBN
- 4789836827
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- Text Lang
- ja
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- Country Code
- ja
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- Title Language Code
- ja
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- Place of Publication
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- 東京
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- Subject
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- BSH: 集積回路
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- Data Source
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- CiNii Books