JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例

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Bibliographic Information

Title
"JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例"
Statement of Responsibility
坂巻佳壽美著
Publisher
  • CQ出版
Publication Year
  • 1998.12
Book size
21cm
Other Title
  • JTAG テスト ノ キソ ト オウヨウ : シンジダイ ノ デンシ カイロ キバン ノ テスト シュホウ ト サマザマナ オウヨウ ジレイ

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Notes

参考文献: p180

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1130282269770981632
  • NII Book ID
    BA39259718
  • ISBN
    4789836827
  • Text Lang
    ja
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    ja
  • Place of Publication
    • 東京
  • Classification
  • Subject
  • Data Source
    • CiNii Books
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