Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers III : 29-30 January, 1998, San Jose, California
書誌事項
- タイトル
- "Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers III : 29-30 January, 1998, San Jose, California"
- 責任表示
- Mahmoud Fallahi, Kurt J. Linden, S.C. Wang, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c1998
- 書籍サイズ
- 28 cm
- タイトル別名
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- Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers 3
- Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers three
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注記
Includes bibliographical references and author index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282270003922560
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- NII書誌ID
- BA86055145
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- ISBN
- 0819427241
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- LCCN
- 2004297445
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/2004297445
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Washington
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- データソース種別
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- CiNii Books