書誌事項
- タイトル
- "Charged semiconductor defects : structure, thermodynamics and diffusion"
- 責任表示
- Edmund G. Seebauer, Meredith C. Kratzer
- 出版者
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- Springer
- 出版年月
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- c2009
- 書籍サイズ
- 25 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282270218286464
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- NII書誌ID
- BA89793550
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- ISBN
- 9781848820586
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- LCCN
- 2008936490
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/2008936490
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- uk
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- London
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- 分類
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- LCC: QC611.6.D4
- DC22: 621.38152
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- 件名
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- データソース種別
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- CiNii Books