Defect recognition and image processing in semiconductors 1995 : proceedings of the sixth International Conference, held in Boulder, Colorado, 3-6 December 1995
書誌事項
- タイトル
- "Defect recognition and image processing in semiconductors 1995 : proceedings of the sixth International Conference, held in Boulder, Colorado, 3-6 December 1995"
- 責任表示
- edited by A.R. Mickelson
- 出版者
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- Institute of Physics Pub.
- 出版年月
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- c1996
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注記
Includes bibliographical references and indexes
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282270232780800
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- NII書誌ID
- BA27981245
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- ISBN
- 0750303727
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- LCCN
- 96011246
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/96011246
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- uk
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bristol ; Philadelphia
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- 分類
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- LCC: TK7871.85
- DC20: 621.3815/2
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- データソース種別
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- CiNii Books