Aberration-corrected electron microscopy

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書誌事項

タイトル
"Aberration-corrected electron microscopy"
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edited by Peter W. Hawkes
出版者
  • Elsevier Academic Press
出版年月
  • 2008
書籍サイズ
24 cm

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Includes bibliographical references and index

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130282270517287040
  • NII書誌ID
    BA88259270
  • ISBN
    9780123742209
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Amsterdam ; Tokyo
  • データソース種別
    • CiNii Books
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