Optical testing and metrology III : recent advances in industrial optical inspection : 8-13 July 1990, San Diego, California

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タイトル
"Optical testing and metrology III : recent advances in industrial optical inspection : 8-13 July 1990, San Diego, California"
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C.P. Grover, chair/editor ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c1990
書籍サイズ
28 cm
シリーズ名/番号
  • : pt. 1
  • : pt. 2

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注記

"Part of a six-conference program on Optical Design and Fabrication held at SPIE's International Symposium on Optical and Optoelectronic Applied Science and Engineering, 8-13 July 1990, San Diego, California"--P. x

Includes bibliographical references and index

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