Image pattern recognition : synthesis and analysis in biometrics
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書誌事項
- タイトル
- "Image pattern recognition : synthesis and analysis in biometrics"
- 責任表示
- editors, Svetlana N. Yanushkevich ...[et al.] ; consulting editor, Mark S. Nixon
- 出版者
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- World Scientific
- 出版年月
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- c2007
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
Includes bibliographical references and indexes
"Some of the new ideas were first presented at the international workshop on 'Biometric Technologies: Modeling and Simulation' held in June 2004 in Calgary, Canada."-- p. vi
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282271109330944
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- NII書誌ID
- BA82032319
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- ISBN
- 9789812569080
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- New Jersey
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- データソース種別
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- CiNii Books