収束電子回折法によるナノスケール点欠陥解析法の開発と点欠陥誘起物性への応用
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Bibliographic Information
- Title
- "収束電子回折法によるナノスケール点欠陥解析法の開発と点欠陥誘起物性への応用"
- Statement of Responsibility
- 津田健治研究代表者
- Publisher
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- [津田健治]
- Publication Year
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- 2007.5
- Book size
- 30cm
- Other Title
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- シュウソク デンシ カイセツホウ ニヨル ナノスケール テン ケッカン カイセキホウ ノ カイハツ ト テン ケッカン ユウキ ブッセイ エノ オウヨウ
- 平成17年度〜平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(C))研究成果報告書(課題番号17510083)
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1130282271436018048
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- NII Book ID
- BB10459461
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- Country Code
- ja
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- Title Language Code
- ja
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- Place of Publication
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- [仙台]
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- Data Source
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- CiNii Books