収束電子回折法によるナノスケール点欠陥解析法の開発と点欠陥誘起物性への応用

CiNii Available at 1 libraries

Bibliographic Information

Title
"収束電子回折法によるナノスケール点欠陥解析法の開発と点欠陥誘起物性への応用"
Statement of Responsibility
津田健治研究代表者
Publisher
  • [津田健治]
Publication Year
  • 2007.5
Book size
30cm
Other Title
  • シュウソク デンシ カイセツホウ ニヨル ナノスケール テン ケッカン カイセキホウ ノ カイハツ ト テン ケッカン ユウキ ブッセイ エノ オウヨウ
  • 平成17年度〜平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(C))研究成果報告書(課題番号17510083)

Search this Book/Journal

Related Books

See more

Details 詳細情報について

  • CRID
    1130282271436018048
  • NII Book ID
    BB10459461
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    ja
  • Place of Publication
    • [仙台]
  • Data Source
    • CiNii Books
Back to top