高純度CVD-SiC静的加熱試験時の温度分布計測
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Bibliographic Information
- Title
- "高純度CVD-SiC静的加熱試験時の温度分布計測"
- Statement of Responsibility
- 宇宙航空研究開発機構編 ; 芳仲敏成, 総合技術研究本部システム評価技術グループ[著]
- Publisher
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- 宇宙航空研究開発機構
- Publication Year
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- 2004.3
- Book size
- 30cm
- Other Title
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- コウジュンド CVD-SiC セイテキ カネツ シケンジ ノ オンド ブンプ ケイソク
- Temperature measurements for the CVD-Sic static heating tests
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1130282271553479680
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- NII Book ID
- BA70459021
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- Text Lang
- ja
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- Country Code
- ja
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- Title Language Code
- ja
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- Place of Publication
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- 調布
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- Classification
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- NDLC: Y251
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- Data Source
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- CiNii Books