高純度CVD-SiC静的加熱試験時の温度分布計測

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Bibliographic Information

Title
"高純度CVD-SiC静的加熱試験時の温度分布計測"
Statement of Responsibility
宇宙航空研究開発機構編 ; 芳仲敏成, 総合技術研究本部システム評価技術グループ[著]
Publisher
  • 宇宙航空研究開発機構
Publication Year
  • 2004.3
Book size
30cm
Other Title
  • コウジュンド CVD-SiC セイテキ カネツ シケンジ ノ オンド ブンプ ケイソク
  • Temperature measurements for the CVD-Sic static heating tests

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1130282271553479680
  • NII Book ID
    BA70459021
  • Text Lang
    ja
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    ja
  • Place of Publication
    • 調布
  • Classification
  • Data Source
    • CiNii Books
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