Machine vision applications in industrial inspection XI :proceedings of electronic imaging science and technology 2003 : 22-24 January 2003, Santa Clara, California, USA

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タイトル
"Machine vision applications in industrial inspection XI :proceedings of electronic imaging science and technology 2003 : 22-24 January 2003, Santa Clara, California, USA"
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Martin A. Hunt, Jeffery R. Price, chair/editor ; sponsored by IS&T--the Society for Imaging Science and Technology, SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c2003
書籍サイズ
28 cm

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注記

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