電磁計測による材料劣化・微小分布欠陥の新しい評価法

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Bibliographic Information

Title
"電磁計測による材料劣化・微小分布欠陥の新しい評価法"
Statement of Responsibility
坂真澄研究代表
Publisher
  • [坂真澄]
Publication Year
  • 1994.3
Book size
30cm
Other Title
  • デンジ ケイソク ニヨル ザイリョウ レッカ ビショウ ブンプ ケッカン ノ アタラシイ ヒョウカホウ
  • 平成5年度科学研究費補助金(一般研究(C))研究成果報告書(課題番号03805009)

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1130282271775221632
  • NII Book ID
    BB12244014
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    ja
  • Place of Publication
    • [仙台]
  • Data Source
    • CiNii Books
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